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詳細介紹
TEP-30電子密度分析天平30g/1mg300g/10mg
系密度稱量兩用電子分析天平，它采用精密電子分析天平利用阿基米德定律，可對任何形狀不規(guī)則的固體物質(zhì)同時進行重量和比重的分析測量，適用于工礦企業(yè)，科研機構(gòu)，大專院校實驗室作質(zhì)量比重的測量與分析
TEP-30電子密度分析天平30g/1mg300g/10mg
產(chǎn)品型號 | 大稱量(g) | 分度值(g) | 稱盤尺寸(mm) | 備 注 |
TEP-500 | 500g | 10mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
TEP-300 | 300g | 1mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
TEP-200 | 200g | 1mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
TEP-30 | 30g/300g | 1mg/10mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
AEL-200A | 200g | 0.1mg | Φ40/Φ90mm | 下皿式、密度稱量兩用 |
系密度稱量兩用電子分析天平，它采用精密電子分析天平利用阿基米德定律，可對任何形狀不規(guī)則的固體物質(zhì)同時進行重量和比重的分析測量，適用于工礦企業(yè)，科研機構(gòu)，大專院校實驗室作質(zhì)量比重的測量與分析
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